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日本Takano AFM（原子力顯微鏡）
AFM（原子力顯微鏡）是 種用于測量薄膜厚度和表面粗糙度的高精度三維輪廓儀。該系統(tǒng)可用于分析應(yīng)用和作為生產(chǎn)線上的質(zhì)量控制/檢查工具。
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