MA xxx 系列測試治具適用于對數(shù)量較小而型號多樣的電子組件進(jìn)行觸探或閃存編程。該測試治具設(shè)計作為替換套件系統(tǒng),可與現(xiàn)有測試系統(tǒng)連接,并通過專門針對被測電子組件而擴(kuò)展的替換套件運(yùn)行。
替換套件系統(tǒng)
側(cè)面開放式壓緊裝置
可堆垛、可完全取下的下部開放式外殼
可任意定義的內(nèi)部接口
可提供標(biāo)準(zhǔn)型和 ESD 型替換套件,并可在無需任何工具的情況下快速安裝,無需后續(xù)調(diào)校即可使用
壓緊裝置和探針支承單元可用螺絲固定為*個整體,使針床受到保護(hù)(以便儲存/運(yùn)輸)
使用壽命:300,000 次負(fù)載循環(huán)(在實驗室條件下)