垂直雙觀測結(jié)構(gòu)(DSOI)提升了靈敏度,同時降低了樣品基體效應(yīng)
以*當(dāng)二:炬管即可垂直又可水平放置的主機,可快速切換以滿足真正的雙向觀測要求
ORCA光路結(jié)構(gòu):同時讀取130-770nm譜線信號,和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學(xué)系統(tǒng)相比,光強度信號提升可高達5倍,紫外/遠紫外區(qū)的靈敏度提高無與倫比
SPECTRO ARCOS型等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)超越了當(dāng)代工業(yè)和科研*域金屬、化學(xué)、石化、材料等行業(yè)元素分析的要求。
MultiView設(shè)計讓使用者可以在90秒內(nèi)將垂直炬管“旋轉(zhuǎn)”成水平炬管,反之亦然。垂直炬管附加了雙觀測光路接口以增加光通量,提高了靈敏度,降低了基體效應(yīng),兩全其美。
由CMOS組成的線性陣列檢測器,無需制冷,無溢出效應(yīng),可記錄樣品基體強譜線中微弱的目標譜線信號,檢測動態(tài)范圍更寬。