CMX v2.0 具有 ZX 儀表的所有功能以及大量高*功能。同時測量材料和涂層厚度,同時仍以單*模式 (PECT) 檢測凹坑和缺陷。還包括自動探頭調(diào)零、自動探頭識別、自動溫度補償。還提供可選大數(shù)字和 B 掃描顯示選項、多達 64 個自定義用戶定義設置、用于精確線性的可選傳感器表以及材料和涂層校準選項。
我們的標準直通繪畫模式仍然包含在內(nèi)并且正在進行中。根據(jù)識別或手動選擇的傳感器在模式之間切換。5 位 12dB 增益開關允許用戶根據(jù)某些材料類型進行調(diào)整,并在常見但困難的應用場景中取得成功。內(nèi)置 TDG(時間相關增益)功能已納入我們的傳感器列表中,可與衰減材料*起使用。該儀表確實具有大量功能和附加優(yōu)勢。它全部被精美地包裝在*個小型便攜式鋁擠壓件中,以提供額外的耐用性。USB-C 連接、4GB 內(nèi)部 SD 內(nèi)存(帶文件系統(tǒng))。屏幕截圖為 .tif。我們基于 Java 的 DakView PC 或 MAC OSX 軟件也是該套件的*部分。