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METTLER TOLEDO粒徑分析儀G400
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品牌： METTLER TOLEDO
單價(jià)： 面議
起訂：
供貨總量：
貨期： 現(xiàn)貨
所在地： 瑞士
有效期至： 長(zhǎng)期有效
最后更新： 2024-12-09 22:59
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詢價(jià)
公司基本資料信息
 
 
產(chǎn)品詳細(xì)說(shuō)明
 　　在實(shí)驗(yàn)室中研究顆粒粒徑和粒數(shù)
　　采用 FBRM 技術(shù) 的 ParticleTrack G400 是直接插入到實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)器中的探頭式儀器，以便在全工藝過(guò)程濃度下實(shí)時(shí)追蹤顆粒粒徑及粒數(shù)變化。 隨著實(shí)驗(yàn)條件的變化，持續(xù)監(jiān)測(cè)顆粒、顆粒結(jié)構(gòu)和液滴為科學(xué)家提供足夠證據(jù)以獲得具有所需屬性的*致顆粒。
　　顆粒粒徑與粒數(shù)直接影響多相工藝中的性能，包括結(jié)晶、乳化和絮凝。 通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)顆粒粒徑與粒數(shù)，科學(xué)家能夠使用基于證據(jù)的方法自信地了解、優(yōu)化和放大實(shí)驗(yàn)過(guò)程。
　　在為離線分析進(jìn)行采樣和制備時(shí)，顆?？赡馨l(fā)生變化。 通過(guò)追蹤過(guò)程中自然存在的顆粒的粒徑與粒數(shù)的變化，科學(xué)家能夠安全且無(wú)延遲地了解工藝過(guò)程 – 甚至是在*端溫度與壓力條件下。
　　隨著實(shí)驗(yàn)條件的變化，通過(guò)連續(xù)監(jiān)測(cè)顆粒，能夠確定過(guò)程參數(shù)對(duì)顆粒粒徑和粒數(shù)的影響。 這種獨(dú)特的信息可用于設(shè)計(jì)能夠持續(xù)提供具有優(yōu)化特性的顆粒的過(guò)程。
 
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